電波暗室性能的提高在于減小測量誤差

電波暗室是所有內表面無反射材料的屏蔽室。模擬自由空間的傳信環境主要用于微波天線系統的參數測量。隨著電子技術的不斷發展，電波暗室已經被更多的人所理解和應用，那么如何判斷電波暗室的性能呢？讓我們來看看。

一.電波暗室的電性能指標

通常表示六個指標，如靜區、反射率電平、交叉極化、多路徑損耗、幅度均勻性和工作頻率。

1.多路徑損耗：路徑損耗不均勻會旋轉電磁波的極化表面。如果波方向旋轉測試天線，接收信號的起伏不得超過±0.25dB，多路徑損失可以忽略。

2.場均勻性:在暗室靜區，沿軸移動待測天線，要求起伏不超過±2dB；待測天線橫向上下移動在靜區截面上，接收信號的起伏不得超過±0.25dB。

3.交叉極化：暗室結構對稱性不嚴格.吸波材料對各種極化波吸收的不一致性以及暗室測試系統，使電波在暗室傳播過程中極化不純。如果測試天線與發射天線的極化面正交平行，則測試場的強比小于-25dB，認為交叉極化符合要求。

二.電波暗室性能指標

在利用光發射法和能量物理法模擬暗室性能時，應考慮電波傳輸去耦、極化去耦、標準天線方向圖因素、吸波材料本身的垂直入射性能和斜入射性能、多次反射等影響。但在實際的工程設計過程中，吸波材料的性能往往是暗室性能的關鍵決定因素。

三.天線測量誤差

1.測試距離有限造成的誤差。設置待測量的是平面天線，接收的來波沿其主波束的軸向。如果測試距離大小，待測天線不同部位接受的場不能相同，因此有平方根律相位差。如果待測天線位于源天線遠場區的邊界2D2/λ，其口徑邊緣和相位中心有22個場.5度的相位差.如果測試距離加倍，相位差減半。對于測量中等旁瓣電平的天線，距離為2D2/λ通常已經足夠了，測量的增益約為0.06dB?？s短測試距離會迅速增加測量誤差，側瓣會與主波束合并成肩臺式，甚至合并。.25dB錐銷將測量的增益降低到0左右.1dB，并造成近側瓣的一些誤差。

2.反射。由于波程差作為位置函數而迅速變化，直射波受到周圍物體反射的干擾，在測試區域形成場的變化，使起伏長度屬于波長的數量級。例如，直射波低20dB反射波可引起-0.92～+0.83dB功率誤差取決于兩者之間的差異；相位測量的誤差范圍是±5.7°，但如果反射波的場比直射波低40dB，側出的幅度和相位只有±0.09與±0.6°誤差。反射在低側瓣的測量中特別有害。一個小的反射可以通過主瓣耦合到待測天線來完全覆蓋耦合到側瓣的直射波。如果相耦合的直射強度等于反射波，則測量的側瓣電平將提高6dB左右，或在測得的波瓣圖中成為零點。

3.其他誤差。也可能導致天線測量誤差的因素有：低頻時與電抗近場耦合明顯；測量天線對準誤差；其他干擾信號；測試電纜引起的誤差。

電波暗室的應用越來越廣泛，為了滿足人們的需求，電波暗室的參數和各個方面都會得到最好的改進。