實驗桌在電磁兼容測試中對測量有什么影響

隨著各國電磁兼容性規范的推廣和實施，人們越來越關注商品的電磁兼容性問題，主要電子設備制造商也越來越關注商品的電磁兼容性測試，特別是電磁輻射騷擾是否符合相關標準要求。在輻射騷擾試驗中，場所對試驗結果的影響非常明顯。同一儀表設備在不同的測試地點會得到不同的測量結果，所以每個暗室的數據測試都有差異。EN55022:2010是歐洲為解決應用領域的信息技術設備無線電騷擾電平而制定的統一試驗規范，規定了騷擾限值、測量方法、操作標準和結果。EN在2010年:2010輻射騷擾試驗中，桌面設備被放置在非金屬桌子上，如圖1所示。規范中只提到桌面的大小.5m×1.0m，但是對試驗臺的材料沒有明文規定。由于不同材料制成的試驗臺介電常數不同，導致輻射騷擾試驗結果不同。本文對輻射騷擾測量的影響進行了定量分析。

圖1.輻射騷擾試驗中臺式 EUT 布置

試驗臺對場地特征的影響

EN55022:2010要求在寬試驗場地進行輻射騷擾試驗。寬試驗場地應平整，無空架電纜線，周圍無反射器。這個地方足夠大，可以在要求的距離處置天線，并使天線、測試設備和反射物體之間有足夠的間距。然而，隨著社會的發展，很難找到一個符合規定的理想場所。因此，無線電暗室作為一個寬闊的試驗場的替代場所，得到了廣泛的應用。該規范要求歸一個地方衰減NSA）這是確認無線電波暗室能否獲得有效結果的關鍵指標。無線電波暗室是為模擬寬度測試場所而建造的。無線電波暗室與寬闊場所的差值應小于4dB，確認兩者的相似程度。

試驗表對試驗結果的影響，如圖2所示。

圖2

在10m在暗室沒有檢測臺的前提下，根據雙錐天線使用信號源(頻率30)~250MHz）多數天線(250頻率)~1000MHz）發送電磁波。一組場地衰減數據通過接收器、另一組雙錐天線和大多數天線測量。統一場所衰減的計算公式：

A_N = V_T - V_R - AF_T - AF_R - ΔAF_TOT

式中：V_T —— 發射天線輸入電壓，dBμV； V_R —— 接收天線輸出電壓，dBμV； AF_T —— 發射天線的天線系數，dB； AF_R ——接收天線的天線系數，dB；

ΔAF_TOT —— 互阻抗修正系數，dB（僅適用 于用偶極子天線測量、且測量距離為 3 m 時的情況， 除此之外，ΔAF_TOT = 0）

表1.雙錐天線和對數天線測得的場地衰減數據

表 1 中，Aideal 為標準的歸一化場地衰減值，偏差為 Aideal 減去 AN，且均小于 4 dB。

然后分別在采用泡沫桌和木桌情況下測得另兩組場地衰減數據，如圖 3 和圖 4 所示。

圖3.泡沫桌場地衰減數據測量之一

圖4.木桌場地衰減數據測量之一

圖5.場地衰減數據比較

結語

由于泡沫的介電常數接近氣體，比木材小，所以在暗室中使用泡沫桌時測得的地方衰減數據與沒有檢測桌的地方相似；暗室使用木桌時，測得的地方衰減數據與沒有檢測臺時的數據有很大區別。由于木桌的介電常數較大，圖5中使用木桌的暗室衰減AN稍大，在AFT，AFR，ΔAFTOT在不變的前提下，接收器測量的電平值較大VR將減小。

因此，當電波暗室采用木桌或其他介電常數材料制成的試驗桌等輔助設備時，會使場地衰減AN增加導致接收器測量的場強度降低，導致測試結果的差異。試驗臺等輔助設備是試驗場所有效性的組成部分。因此，建議在選擇暗室輔助設備時，選擇介電常數較小的材料，并進行場地衰減的測量，以確保每個暗室測量結果的一致性。